semiconductor memory device having multi bit test mode comparator,申请号KR19990060160-传众专利搜索

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发明名称	semiconductor memory device having multi bit test mode comparator
摘要
申请公布号	KR100621761(B1)	申请公布日期	2006.09.07
申请号	KR19990060160	申请日期	1999.12.22
申请人		发明人
分类号	G11C29/00	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
主权项
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