| 发明名称 | 可控硅状态取样装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种可控硅状态取样装置，连接于可控硅与主控电路之间；其特征在于该装置由电阻、稳压二极管连接组成，即稳压二极管两端分别串联电阻与可控硅并联。当可控硅关断时，电源电压加在取样电阻两端，有电流流经取样电路回路；当可控硅导通时，取样电阻两端无电压，故无电流流经取样电阻回路；通过位于主控电路板内的光电耦合装置，准确地检测到可控硅导通状态。因电路中的电阻器件对谐波分量不敏感，故该取样装置的可靠性大大提高，用于生产微机电阻焊机控制箱，防止过热烧毁，提高检测可靠性。该装置结构简单，使用方便；抗冲击能力强，提高产品质量；有效降低成本，延长使用寿命。 | ||
| 申请公布号 | CN2814759Y | 申请公布日期 | 2006.09.06 |
| 申请号 | CN200520026243.9 | 申请日期 | 2005.06.21 |
| 申请人 | 天津市商科机电设备有限公司 | 发明人 | 赵继华 |
| 分类号 | H02H7/12(2006.01);H02M5/257(2006.01) | 主分类号 | H02H7/12(2006.01) |
| 代理机构 | 天津市三利专利商标代理有限公司 | 代理人 | 刘英兰 |
| 主权项 | 1、一种可控硅状态取样装置，连接于可控硅与主控电路之间；其特征在于该装置由电阻、稳压二极管连接组成，即稳压二极管两端分别串联电阻与可控硅并联。 | ||
| 地址 | 300134天津市天津商学院北院 | ||