| 发明名称 | 一种用于测试具有薄膜晶体管阵列基板和滤色基板的液晶显示面板的设备和方法 | ||
| 摘要 | 一种测试具有薄膜晶体管阵列基板和滤色基板的液晶显示面板的设备和方法，能以接触法用第一到第四测试条来测试单位液晶显示面板的长边和短边上是否有毛刺缺陷，并能测量单位液晶显示面板的长边之间的距离和短边之间的距离。 | ||
| 申请公布号 | CN1273851C | 申请公布日期 | 2006.09.06 |
| 申请号 | CN02157179.1 | 申请日期 | 2002.12.16 |
| 申请人 | LG.菲利浦LCD株式会社 | 发明人 | 鱼智钦;申相善 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01);G01B5/02(2006.01);G01N21/88(2006.01) | 主分类号 | G02F1/13(2006.01) |
| 代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人 | 徐金国;祁建国 |
| 主权项 | 1.一种用于测试具有薄膜晶体管阵列基板和滤色基板的液晶显示面板的设备，包括：第一和第二测试条，对应于单位液晶显示面板的长边，沿单位液晶显示面板的抛光边缘测试缺陷，并测量单位液晶显示面板的长边之间的距离；和第三和第四测试条，对应于单位液晶显示面板的短边，沿单位液晶显示面板的抛光边缘测试缺陷，并测量单位液晶显示面板的短边之间的距离。 | ||
| 地址 | 韩国首尔 | ||