光波形测定装置和其测定方法、及复折射率测定装置和其测定方法、及记录其程序的计算机程序记录媒体

摘要

本发明涉及光波形测定装置和其测定方法，及复折射率测定装置及其测定方法，及记录其程序的计算机程序记录介质，其目的在于：对于近红外线波段的电磁波的波长短的光波段的电磁波测定电场，并输出其时间变化的波形；及以光的电场波形的测定结果为基础，容易地求得物质的复折射率。本发明装置选通脉冲光产生装置，测定光产生装置，和对测定光进行检测的光检测装置，选通脉冲光及测定光都是相干性光，测定光是波长比近红外线波段短的相干性光，选通脉冲光的脉冲宽度比测定光的周期短，对基于使测定光和选通脉冲光照射到光检测装置而产生的载流子的物理量进行测定，并基于该物理量对该测定光的电场进行测定。

主权项

1.一种光波形测定装置，其特征在于：具备选通脉冲光产生装置，测定光产生装置，和对测定光进行检测的光检测装置；选通脉冲光及测定光都是相干性光，测定光是波长比近红外线波段短的相干性光，选通脉冲光的脉冲宽度比测定光的周期短，选通脉冲光照射到光检测装置产生载流子，对基于该载流子的物理量进行测定，并基于该物理量对该测定光的电场进行测定。