发明名称 |
内存写入延迟时间的决定方法及其装置 |
摘要 |
本发明公开了一种内存写入延迟时间的决定方法及装置,用于一计算机系统,该方法包括由北桥选择所述多列内存之一;以多个不同的写入延迟时间由北桥将一样本写入选择的该列内存,以将该样本依照该不同写入延迟时间填入该对应列内存;以及读取各列内存储存的该样本,并依据该读取的样本的正确性而决定各该列内存合格的一写入延迟时间范围,然后依据所述写入延迟时间范围的交集决定该写入延迟时间,其由基本输入输出系统执行。缩短整个写入延迟时间的检查时间,从而缩短计算机开机等待时间。 |
申请公布号 |
CN1272712C |
申请公布日期 |
2006.08.30 |
申请号 |
CN03146123.9 |
申请日期 |
2003.07.23 |
申请人 |
威盛电子股份有限公司 |
发明人 |
朱修明 |
分类号 |
G06F11/00(2006.01);G06F11/34(2006.01) |
主分类号 |
G06F11/00(2006.01) |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 |
代理人 |
梁挥;徐金国 |
主权项 |
1.一种内存写入延迟时间的决定方法,用于一计算机系统,所述计算机系统包括一北桥、一内存及一基本输入输出系统,所述内存与所述北桥电性连接,其特征在于:该方法包括如下步骤:(a)由所述北桥决定多个不同的写入延迟时间;(b)由所述北桥从所述多个不同的写入延迟时间选择其一;(c)由所述北桥对所述内存发出一写入指令以写入一样本;(d)在该选择的写入延迟时间后,依据所述写入指令写入所述样本至所述内存;(e)由所述基本输入输出系统执行读取所述内存储存的样本;(f)由所述基本输入输出系统执行检查读取的样本是否符合写入的所述样本,若是,则该写入延迟时间为合格;以及,(g)循环执行步骤(b)-(f),直到所述不同的写入延迟时间都已被选择,以找出该内存合格的写入延迟时间范围。 |
地址 |
台湾省台北 |