A novel fluorescent and photoemission apparatus and method for submicron ic failure analysis,申请号SG20060000280-传众专利搜索

首页产品黄页商标征信

会员服务注册登录

法人/股东/高管

发明名称	A novel fluorescent and photoemission apparatus and method for submicron ic failure analysis
摘要
申请公布号	SG124365(A1)	申请公布日期	2006.08.30
申请号	SG20060000280	申请日期	2006.01.17
申请人	CHARTERED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING LTD.	发明人	MIN WU ZONG;KHIAM OH CHONG;SIN CHEONG LIP;REDKAR SHAILESH
分类号		主分类号
代理机构		代理人
主权项
地址

您可能感兴趣的专利

METODA UNTUK PENGUKURAN DIFUSI NMR

TABLET TABLET DETERJEN

ALAT UNTUK INSPEKSI VISUAL KUALITAS PERMUKAAN DARI PERMUKAAN YANG SEBANDING UNTUK UKURAN TERBESAR

LEMBARAN LOGAM TERLAPISI-RESIN DENGAN DAYA PANTUL RIANG YANG LEBIH TINGGI YANG MEMILIKI PEREKATAN YANG DAPAT BEKERJA LEBIH BAIK

MANDREL PENGUNCIAN KE ATAS DENGAN STRUKTUR KUNCI PENAHAN DAN METODE OPERASINYA

BENDA-BENDA PENYERAP BERPORI

PEMBUATAN ASAM AKRILAT

BUSA POLIURETANA YANG KAKU YANG DIMODIFIKASI ISOSIANURAT

Structure to reduce stress in multilayer ceramic substrates

Transparent plastic pane containing a copolymer of methylmethacrylate and polyfunctional acrylates

Method and apparatus for compiler symbol table organization with no lookup in semantic analysis

Bone morphogenetic protein -11 (BMP-11) compositions

Method for locating a versioned object within a version tree depicting a history of system data and processes for an enterprise

Thermal transfer printing dyesheet

Detergent composition comprising an amide-ether derivative mixture and an amphoteric surfactant

Method for manufacturing a capacitor for a semiconductor device

Programmable interconnect structures and programmable integrated circuits

Bearing structure