发明名称 |
ABDECKUNGSANORDNUNG FÜR MIKROTESTPLATTE |
摘要 |
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申请公布号 |
DE60121467(D1) |
申请公布日期 |
2006.08.24 |
申请号 |
DE20016021467 |
申请日期 |
2001.12.12 |
申请人 |
TEKCEL LLC |
发明人 |
WARHURST, D.;ZAAYENGA, F. |
分类号 |
B01L3/00;G01N35/02;B65D45/02;B65D77/20;B81B1/00;C40B60/14;G01N37/00 |
主分类号 |
B01L3/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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