发明名称 |
超透镜薄膜结构的超分辨数字光盘 |
摘要 |
一种超透镜薄膜结构的超分辨数字光盘,包括超透镜薄膜2和盘基3,其特征在于:还有介电层1,它们依次为介电层1/超透镜薄膜2/盘基3,介电层1是氮化硅SiN或ZnS-SiO<SUB>2</SUB>;超透镜薄膜2是Ag、Au或Ag(x)Au(1-x)合金薄膜,其中x值在0-1之间变化;盘基3带有坑点,坑点尺寸小于380nm,最小坑点尺寸在200nm。该光盘结构,通过使用激光波长为650nm红光,数值孔径为0.60的光学头,实现信息坑点尺寸在200nm及其以上的动态读出。该光盘的单面单层容量达到12-15GB,双面单层的容量达到25-30GB。 |
申请公布号 |
CN1822150A |
申请公布日期 |
2006.08.23 |
申请号 |
CN200610018281.9 |
申请日期 |
2006.01.23 |
申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所;查黎 |
发明人 |
魏劲松;施宏仁;侯立松;干福熹 |
分类号 |
G11B7/24(2006.01);G11B7/254(2006.01);G11B7/257(2006.01);G11B7/244(2006.01) |
主分类号 |
G11B7/24(2006.01) |
代理机构 |
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 |
代理人 |
朱必武 |
主权项 |
1、一种超透镜薄膜结构的超分辨数字光盘,包括超透镜薄膜2和盘基3,其特征在于:还有介电层1,它们依次为介电层1/超透镜薄膜2/盘基3,介电层1是氮化硅SiN或ZnS-SiO2;超透镜薄膜2是Ag、Au或Ag(x)Au(1-x)合金薄膜,其中x值在0-1之间变化;盘基3带有坑点,坑点尺寸小于380nm,最小坑点尺寸在200nm。 |
地址 |
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