| 发明名称 | 半导体激光近、远场分布观测装置 | ||
| 摘要 | 半导体激光近、远场分布观测装置属于半导体激光器器件测试技术领域。现有技术是将激光近、远场分布光斑转换为电信号后进行测试，缺乏直观性；另外，在远场分布测试上缺乏确定的方案，在列阵芯片测试方面手段欠便捷，效率低。本发明采用光学透镜系统和变像管这两个主要观测部件，并可构成两种工作状态，从而可以通过肉眼直接观测，包括单芯、阵列芯片的近、远场分布。本发明可应用半导体物理的教学和科研领域，还可以应用于半导体激光器器件的生产领域。 | ||
| 申请公布号 | CN1821798A | 申请公布日期 | 2006.08.23 |
| 申请号 | CN200610007505.6 | 申请日期 | 2006.02.13 |
| 申请人 | 长春理工大学 | 发明人 | 王晓华;王勇;赵英杰;姜晓光;刘波 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01);G01N21/84(2006.01);H01L33/00(2006.01) | 主分类号 | G01R31/26(2006.01) |
| 代理机构 | 中国兵器工业集团公司专利中心 | 代理人 | 曲博 |
| 主权项 | 1、一种半导体激光近、远场分布观测装置，其特征在于：①在底座(1)的中部安置有支柱(2)，载物台(3)固定在支柱(2)的上部，待测芯片(4)搁置在载物台(3)上；②在底座(1)的一侧固定有支杆(5)，光学投影系统(6)由摆臂(7)连接在支杆(5)上，由连杆(8)将变像管(9)保持在芯片(4)的上方，连杆(8)的另一端连接在支杆(5)上；③当观测近场分布时，光学投影系统(6)保持在芯片(4)的上方，变像管(9)保持在光学投影系统(6)的上方；④当观测远场分布时，摆臂(7)绕支杆(5)摆动，将光学投影系统(6)从芯片(4)上方移开，连杆(8)沿支杆(5)下移，使变像管(9)接近芯片(4)。 | ||
| 地址 | 130022吉林省长春市朝阳区卫星路7089号 | ||