发明名称 |
基于能量识别的X射线位相成像非相干散射消除装置 |
摘要 |
一种基于能量识别的X射线位相成像非相干散射消除装置,包括X射线产生及调制系统,待测物固定装置,和后端X射线调制及探测系统三部分。本发明通过选择不同的滤除材料,能保证有效X射线基本没有损失,波长不变的初级辐射几乎可以全部到达X射线探测器,而消除非相干散射对成像质量的影响。本发明能滤除对人体损伤较大的长波长X射线,使得成像过程对人体或生物组织的损伤达到最小,且具有普遍适用、制作简单、低成本、小体积和稳定性好的特点。 |
申请公布号 |
CN1821866A |
申请公布日期 |
2006.08.23 |
申请号 |
CN200610024489.1 |
申请日期 |
2006.03.08 |
申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
发明人 |
喻虹;韩申生;张帅;彭卫军 |
分类号 |
G03B42/02(2006.01);G01N23/04(2006.01);A61B6/00(2006.01) |
主分类号 |
G03B42/02(2006.01) |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 |
代理人 |
张泽纯 |
主权项 |
1、一种基于能量识别的X射线位相成像非相干散射消除装置,包括X射线产生及调制系统,待测物固定装置和后端X射线调制及探测系统三部分,其特征在于:<1>所述的X射线产生及调制系统由位于防辐射外壳中的X射线发生装置、X射线源调制器和位于防辐射外壳上的X射线出射窗构成;所述的后端X射线调制及探测系统由后端X射线调制器和X射线探测器构成;所述的待测物固定装置置于X射线产生及调制系统与后端X射线调制及探测系统之间;<2>所述的位于防辐射外壳中的X射线发生装置产生X线束的焦点,X射线源调制器和位于防辐射外壳上的X射线出射窗,待测物固定装置,以及后端X射线调制器和X射线探测器同轴; |
地址 |
201800上海市800-211邮政信箱 |