| 发明名称 | 基于整体会聚X光透镜的EXAFS谱仪 | ||
| 摘要 | 基于整体会聚X光透镜和位置灵敏探测器的EXAFS谱仪是由X光源、样品、平面单色器、位置灵敏探测系统以及在X光源和样品之间的整体会聚X光透镜组成，它可用来对样品进行结构分析。本实用新型的核心部件是安放在光源和样品之间整体会聚X光透镜。本实用新型的核心是通过整体会聚X光透镜与位置灵敏探测系统的合理结合，实现对样品进行空间分辨和时间分辨的EXAFS分析。同时，由于整体会聚X光透镜具有很高的放大倍数，所以，本实用新型可以利用功率较低的光源进行EXAFS分析。本实用新型结构简单，造价低廉，便于推广和普及。 | ||
| 申请公布号 | CN2809635Y | 申请公布日期 | 2006.08.23 |
| 申请号 | CN200520008746.3 | 申请日期 | 2005.03.22 |
| 申请人 | 北京师范大学 | 发明人 | 丁训良;孙天希;刘志国 |
| 分类号 | G01N23/20(2006.01);G01N13/00(2006.01) | 主分类号 | G01N23/20(2006.01) |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 1.一种基于整体会聚X光透镜的EXAFS谱仪，包括X光源、样品、平面单色器、位置灵敏探测系统，其特征在于：该谱仪还包括在X光源和样品之间加有一整体会聚X光透镜。 | ||
| 地址 | 100875北京市海淀区新外大街19号 | ||