首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 CUSTOM MEASURING METHOD FOR YONGCHEON AND MANUFACTURING METHOD BY THE MEASURING METHOD
摘要
申请公布号 KR100618126(B1) 申请公布日期 2006.08.23
申请号 KR20050033924 申请日期 2005.04.25
申请人 CHOI, IN SUN 发明人 CHOI, IN SUN
分类号 A61B5/00;G01N33/00 主分类号 A61B5/00
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com