| 主权项 |
1.一种共平面度检测设备,适于检测多个待测物之 多个待测点的共平面度,该共平面度检测设备包括 : 多个检测模组,其中每一检测模组包括: 一平台,具有一贯孔; 一探测棒,配置于该平台下,且该探测棒适于突出 于该贯孔; 一马达,用以驱动该探测棒; 多个搬运装置,配设于该些检测模组旁,用以依序 移动该些待测物至该些平台上以供检测;以及 一伺服控制器,电性连接该些马达,用以控制该些 搬运装置将该些待测物依序移至该些平台上,同时 控制该些马达依序驱动该些探测棒往上移动,并于 该些探测棒之顶面接触该些待测点时获得该些待 测点之高度资讯,以判定该些待测点之共平面度。 2.如申请专利范围第1项所述之共平面度检测设备, 更包括一供电器,其两极分别电性连接至该些探测 棒与该些平台,其中该些待测物适于在接触该些探 测棒与该些平台时共同建立多个导电回路,而该伺 服控制器是在该些导电回路建立时撷取该些待测 点之高度资讯。 3.如申请专利范围第2项所述之共平面度检测设备, 其中该些探测棒之材质包括金属。 4.如申请专利范围第2项所述之共平面度检测设备, 其中该些探测棒之表面镀有金属。 5.如申请专利范围第4项所述之共平面度检测设备, 其中该些探测棒之表面镀有金。 6.如申请专利范围第1项所述之共平面度检测设备, 其中该些检测模组的位置为可调整。 7.如申请专利范围第1项所述之共平面度检测设备, 其中该些搬运装置包括机械手臂。 8.如申请专利范围第1项所述之共平面度检测设备, 更包括一量测装置。 9.如申请专利范围第8项所述之共平面度检测设备, 其中该量测装置包括光学尺或感测器。 图式简单说明: 图1绘示为习知之电磁波防护壳体装设于电子产品 中的剖面示意图。 图2绘示为本发明一实施例之共平面度检测设备的 局部示意图。 |
