| 主权项 |
1.一种验证缺陷管理区域(Defect Management Area,简称 DMA)资讯在一记录及重制装置中被适当地产生之方 法,该记录及重制装置将资讯记录在具有DMA资讯之 一光碟片上或由其重制资讯,该方法包括: 产生一测试资讯,该测试资讯包括一缺陷管理资讯 ,其是在对一测试碟片执行经确认之初始化之后产 生的,该测试碟片是由在一空白碟片上制造已知实 体缺陷得到的;以及 使用关于该经确认之初始化之参考测试资讯来验 证包括该缺陷管理资讯的该测试资讯,藉以提供一 测试结果。 2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该测试资 讯系一DMA镜射档。 3.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该产生包 括从经确认之初始化之该测试碟片上之一DMA区域 直接读取该测试资讯。 4.如申请专利范围第1项所述之方法,更包括显示该 测试结果。 5.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该验证包 括检查一DMA结构,一碟片定义结构(Disc Definition Structure,简称DDS),一主缺陷列表(Primary Defect List,简 称PDL)结构及一次缺陷列表(Secondary Defect List,简称 SDL)结构,其形成该测试资讯,以及检查是否存在关 于经由认证得知之实体缺陷之一G1-list之PDL项目。 6.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该验证包 括: 验证该测试资讯之一DMA结构; 验证在该DMA中之一碟片定义结构(Disc Definition Structure,简称DDS); 验证在该DMA中之一主缺陷列表(Primary Defect List,简 称PDL)结构;以及 验证在该DMA中之一次缺陷列表(Secondary Defect List, 简称SDL)结构。 7.如申请专利范围第6项所述之方法,其中该验证该 DMA结构包括检查一错误条件,DDS/PDL及SDL更新计数 器及该DMA之内容。 8.如申请专利范围第7项所述之方法,其中: 检查该错误条件包括检查错误是否存在于四个DMA 中之任一个,其为写在该测试碟片上之四个位置之 该DMA,其中两个位于该测试碟片上之一导入区域以 及其中两个位于该测试碟片上之一导出区域; 检查该些DDS/PDL更新计数器包括检查在四个DDS及四 个PDL中之该些DDS/PDL更新计数器的値是否为"0",代 表执行经确认之初始化之前与之后之该些DDS/PDL更 新计数器之差异之该些DDS/PDL更新计数器之增量是 否为"1",以及检查该八个DDS/PDL更新计数器的値是 否相同; 检查该些SDL更新计数器包括检查在四个SDL中之SDL 更新计数器的値是否为"0",代表执行经确认之再初 始化之前与之后之该些SDL更新计数器之差异之该 些SDL更新计数器之增量是否为"1",以及检查该四个 SDL更新计数器的値是否相同;以及 检查该DMA之内容包括检查该四个DMA之内容是否相 同。 9.如申请专利范围第6项所述之方法,其中该DDS之该 验证包括检查一DDS识别、一碟片认证旗号、一DDS/ PDL更新计数器、一群组的数目、一区段的数目、 一主备用区域的位置、以及一第一逻辑扇区编号 之位置及每一区段之一开始逻辑扇区编号。 10.如申请专利范围第9项所述之方法,其中: 检查该DDS识别包括检查该DDS识别是否为一预定値; 检查该碟片认证旗号包括检查在该碟片认证旗号 中之表示进行中之一位元的値及表示碟片制造者 认证之一位元的値是否皆为"0b"以及表示使用者认 证之一位元的値是否为"1b"; 检查该DDS/PDL更新计数器包括检查该DDS/PDL更新计 数器的値是否为"0"以及代表执行经确认之初始化 之前与之后之该DDS/PDL更新计数器之差异之该DDS/ PDL更新计数器之增量是否为"1"; 检查该群组的数目包括检查该群组的数目是否为 一预定数目; 检查该区段的数目包括检查该区段的数目是否为 一预定数目; 检查该主备用区域之位置包括检查该主备用区域 之第一及最后扇区编号是否分别为一预定扇区编 号; 检查该第一逻辑扇区编号包括检查该第一逻辑扇 区编号是否根据注记在该PDL中之缺陷数目来决定 的;以及 检查该开始逻辑扇区编号包括检查关于每一区段 之该开始逻辑扇区编号是否根据注记在该PDL中之 缺陷数目来决定的。 11.如申请专利范围第6项所述之方法,其中该PDL结 构之该验证包括检查一PDL识别,在该PDL中之项目数 及该些PDL项目之完整性。 12.如申请专利范围第11项所述之方法,其中: 检查该PDL识别包括检查该PDL识别是否为一预定値; 检查在该PDL中之项目数包括检查在该PDL中之项目 数是否与注记在该PDL中之缺陷数目相同;以及 检查该些PDL项目之完整性包括检查该PDL项目型态 是否表示在使用者认证期间所检测到的缺陷扇区 之一G1-list以及检查对应之缺陷扇区编号。 13.如申请专利范围第6项所述之方法,其中该SDL结 构之该验证包括检查一SDL识别,一SDL更新计数器, 一次备用区域(Secondary Spare Area,简称SSA)之一开始 扇区编号,逻辑扇区之一总数,一DDS/PDL更新计数器, 一备用区域满溢旗号,在该SDL中之项目数,该些SDL 项目之完整性,一未使用区域,及保留区域。 14.如申请专利范围第13项所述之方法,其中: 检查该SDL识别包括检查该SDL识别是否为一预定値; 检查该SDL更新计数器包括检查该SDL更新计数器的 値是否为"0"以及代表执行经确认之初始化之前与 之后之该SDL更新计数器之差异之该SDL更新计数器 之增量是否为"1"; 检查该DDS/PDL更新计数器包括检查该DDS/PDL更新计 数器的値是否为"0"以及代表执行经确认之初始化 之前与之后之该DDS/PDL更新计数器之差异之该DDS/ PDL更新计数器之增量是否为"1"; 检查该SSA之该开始扇区编号及该些逻辑扇区之总 数包括检查该SSA之该开始扇区编号及该些逻辑扇 区之总数是否根据一使用者指定之该SSA之该大小 来正确地设定; 检查该备用区域满溢旗号,该SDL之该项目数,及该 些SDL项目之完整性包括检查该备用区域满溢旗号 是否指示该备用区域为未满溢,在该SDL中之该项目 数是否设定为"00h",以及关于该些SDL项目之资讯是 否不存在;以及 检查该未使用区域及该些保留区域包括检查该SDL 之该未使用区域之一大小及该未使用区域是否为 一预定値,以及该些保留区域是否为预定値。 15.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该记录 及重制装置系一数位多功能碟片随机存取记忆体( Digital Versatile Disc-Random Access Memory,简称DVD-RAM)。 16.如申请专利范围第2项所述之方法,其中该参考 测试资讯系一参考DMA镜射档。 17.如申请专利范围第16项所述之方法,其中该参考 DMA镜射档包含无错误之理想资料。 18.如申请专利范围第8项所述之方法,其中该检查 错误是否存在于四个DMA中之任一个包括: 检查在该四个DMA中是否有任何无法校正之错误;以 及 假如发现任何无法校正之错误则判断该验证为失 败。 19.如申请专利范围第10项所述之方法,其中在该碟 片认证旗号中之表示进行中之该位元为b7,表示使 用者认证之该位元为b1,表示碟片制造者认证之该 位元为b0,以及该碟片认证旗号之位元b6至b2为保留 位元,其中检查该碟片认证旗号更包括检查每一该 些保留位元的値是否为"0b"。 20.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该PDL结 构之该验证更包括: 检查该PDL之一未使用区域是否为一预定値。 21.如申请专利范围第14项所述之方法,其中该SDL结 构之该验证更包括: 检查该SDL之一未使用区域是否为一预定値。 22.一种验证缺陷管理区域(Defect Management Area,简称 DMA)资讯在一记录及重制装置中是否被适当地产生 或更新之方法,其中该记录及重制装置将资讯记录 在具有DMA资讯之一光碟片上或由其重制资讯,该方 法包括: 由该DMA资讯产生测试资讯,其是在执行经确认之初 始化之后产生的;以及 执行一测试用以使用参考测试资讯验证包括该DMA 资讯的该测试资讯。 23.如申请专利范围第22项所述之方法,其中该测试 资讯系一DMA镜射档以及该参考测试资讯系一参考 DMA镜射档。 24.如申请专利范围第22项所述之方法,其中该执行 该测试包括: 检查一DMA之一结构,该DMA之一碟片定义结构(Disc Definition Structure,简称DDS),该DMA之一主缺陷列表( Primary Defect List,简称PDL)结构及一次缺陷列表( Secondary Defect List,简称SDL)结构,其形成该测试资讯 。 25.如申请专利范围第10项所述之方法,其中该DMA结 构之该检查包括: 检查在该DDS中之剩余保留区域每一个皆具有一预 定値。 26.一种用以测试一记录及重制装置之装置,该记录 及重制装置将资讯记录在具有缺陷管理区域(Defect Management Area,简称DMA)资讯之一可记录及可重制光 碟片上或由其重制资讯,藉以检查该DMA资讯是否被 适当地产生,该装置包括: 一修改过的碟机单元,用以由一测试碟片之所产生 的DMA资讯产生测试资讯,该DMA资讯是在该记录及重 制装置对该测试碟片执行经确认之初始化之后得 到的;以及 一验证器,用以比较该测试资讯,包括该DMA资讯,与 经确认之初始化之预定测试资讯,藉以验证一测试 结果。 27.如申请专利范围第26项所述之装置,其中该测试 资讯系一DMA镜射档以及该预定测试资讯系一参考 DMA镜射档。 28.如申请专利范围第26项所述之装置,其中该修改 过的碟机单元由该测试碟片上之一DMA区域读取该 测试资讯以及将该测试资讯提供至该验证器。 29.如申请专利范围第26项所述之装置,其中该测试 碟片系一碟片,于其上为在执行经确认之初始化之 前在一空白碟片上形成已知之实体缺陷。 30.如申请专利范围第26项所述之装置,其中该验证 器比较该测试资讯与该预定测试资讯是藉由检查 一DMA之一结构,该DMA之一碟片定义结构(Disc Definition Structure,简称DDS),该DMA之一主缺陷列表( Primary Defect List,简称PDL)结构及一次缺陷列表( Secondary Defect List,简称SDL)结构,其形成该测试资讯 。 31.一种验证一记录及重制装置是否适当地读取及 处理缺陷管理区域(Defect Management Area,简称DMA)资讯 之方法,包括: 对包含预定已知实体缺陷资讯之一测试碟片执行 经确认之初始化,藉以产生测试资讯;以及 比较该测试资讯,包括缺陷管理资讯,与参考测试 资讯,藉以确定该记录及重制装置之一验证。 32.如申请专利范围第31项所述之方法,其中该执行 该经确认之初始化包括: 使该记录及重制装置对该测试碟片执行该经确认 之初始化,藉以产生具有该DMA资讯之一碟片,以及 使用一参考碟机由该碟片只读取该DMA资讯,藉以产 生一DMA镜射档当作该测试资讯; 其中该参考测试资讯系一参考DMA镜射档。 33.如申请专利范围第31项所述之方法,其中该比较 包括: 检查一DMA之一结构,该DMA之一碟片定义结构(Disc Definition Structure,简称DDS),该DMA之一主缺陷列表( Primary Defect List,简称PDL)结构及一次缺陷列表( Secondary Defect List,简称SDL)结构,其形成该测试资讯 。 34.一种记录及重制装置,依照下列程序验证: 对包含预定已知实体缺陷之一测试碟片执行经确 认之初始化,藉以产生测试资讯;以及 比较该测试资讯,包括缺陷管理资讯,与参考测试 资讯,藉以确定该记录及重制装置之一验证。 35.如申请专利范围第34项所述之记录及重制装置, 其中该比较该测试包括: 检查一DMA资讯之一结构,该DMA之一碟片定义结构( Disc Definition Structure,简称DDS),该DMA之一主缺陷列表 (Primary Defect List,简称PDL)结构及一次缺陷列表( Secondary Defect List,简称SDL)结构,其形成该测试资讯 。 36.一种用以测试一记录及重制装置之装置,该记录 及重制装置将资讯记录在具有缺陷管理区域资讯 之一可记录及可重制之光碟片上或由其重制资讯, 藉以检查DMA资讯是否被适当地产生,该装置包括: 一修改过的碟机,根据一测试碟片之该DMA资讯产生 测试资讯,该DMA资讯是由一重制装置在该测试碟片 执行经确认之初始化所产生的;以及 一验证器,用以比较该测试资讯与参考测试资讯, 藉以确定该记录及重制装置之一验证。 37.如申请专利范围第36项所述之装置,其中该修改 过的碟机由该测试碟片只读取该DMA资讯,藉以产生 一DMA镜射档当作该测试资讯; 其中该参考测试资讯系一参考DMA镜射档。 38.如申请专利范围第36项所述之装置,其中该验证 器由一外部来源接收该参考测试资讯,藉以对该测 试资讯与该参考测试资讯之间进行比较。 39.如申请专利范围第36项所述之装置,其中该验证 器比较该测试资讯与该预定之测试资讯是藉由检 查一DMA之一结构,该DMA之一碟片定义结构(Disc Definition Structure,简称DDS),该DMA之一主缺陷列表( Primary Defect List,简称PDL)结构及一次缺陷列表( Secondary Defect List,简称SDL)结构,其形成该测试资讯 。 40.一种制造一符合的记录及重制装置之方法,包括 : 制造一未认证之记录及重制装置,其更新及产生缺 陷管理区域(Defect Management Area,简称DMA)资讯;以及 验证该记录及重制装置系符合于一标准,该验证包 括: 对一测试碟片执行经确认之初始化,藉以产生测试 资讯;以及 比较该测试资讯,包括缺陷管理资讯,与参考测试 资讯,藉以确定该记录及重制装置之一验证,该验 证表示该未认证之记录及重制装置系符合于该标 准。 41.如申请专利范围第40项所述之方法,其中该比较 包括: 检查一DMA之一结构,该DMA之一碟片定义结构(Disc Definition Structure,简称DDS),该DMA之一主缺陷列表( Primary Defect List,简称PDL)结构及一次缺陷列(Secondary Defect List,简称SDL)结构,其形成该测试资讯。 42.一种碟片记录及重制装置,用以记录及重制在一 光碟片上之资讯,包括: 一光源,用以发射一光线; 一聚焦元件,用以将该光线聚焦在该光碟片上,藉 以记录及重制该资讯;以及 一控制器,用以控制该光源,验证该控制器藉以更 新及产生缺陷管理区域(Defect Management Area,简称DMA) 资讯是藉由 对一测试碟片执行经确认之初始化,藉以产生测试 资讯,以及 比较该测试资讯,包括该DMA资讯,与参考测试资讯, 藉以确定该记录及重制装置之该验证。 43.如申请专利范围第42项所述之碟片记录及重制 装置,其中该控制器检查一DMA之一结构,该DMA之一 碟片定义结构(Disc Definition Structure,简称DDS),该DMA 之一主缺陷列表(Primary Defect List,简称PDL)结构及一 次缺陷列表(Secondary Defect List,简称SDL)结构,其形成 该测试资讯。 44.一种碟片记录及重制装置,用以记录及重制在一 光碟片上之资讯: 一光源,用以发射一光线; 一聚焦元件,用以将该光线聚焦在该光碟片上,藉 以记录及重制该资讯;以及 一控制器,用以控制该光源以及在对一测试碟片执 行经确认之初始化之后更新及产生缺陷管理区域 资讯,藉由比较该缺陷管理资讯与参考资讯而使得 该缺陷管理资讯符合一标准。 45.如申请专利范围第44项所述之碟片记录及重制 装置,其中该控制器接受检验,以根据使用测试资 讯之标准来更新及产生该缺陷管理区域(DMA)资讯, 其中,测试资讯系藉由执行经确认之初始化所得, 且 该控制器检查一DMA之一结构,该DMA之一碟片定义结 构(Disc Definition Structure,简称DDS),该DMA之一主缺陷 列表(Primary Defect List,简称PDL)结构及一次缺陷列表 (Secondary Defect List,简称SDL)结构,其形成该测试资讯 。 46.一种用以测试一记录及重制装置之装置,该记录 及重制装置将资讯记录在具有缺陷管理区域(Defect Management Area,简称DMA)资讯之一可记录及可重制之 光碟片上或由其重制资讯,藉以检查DMA资讯是否被 适当地产生,该装置包括: 一修改过的碟机单元,由记录在该测试碟片上之该 DMA资讯产生测试资讯,该DMA资讯是在该记录及重制 装置对一测试碟片执行经确认之初始化之后所得 到的,该测试碟片是藉由在一空白碟片上制造已知 实体缺陷所得到的;以及 一验证器,用以藉由验证该测试资讯来验证一测试 结果,包括该DMA资讯,其使用关于经确认之初始化 之参考测试资讯。 47.如申请专利范围第46项所述之装置,其中该测试 资讯系一DMA镜射档。 48.如申请专利范围第47项所述之装置,其中该修改 过的碟机单元直接由经确认之初始化之该测试碟 片上之一DMA区域读取该测试资讯。 49.如申请专利范围第46项所述之装置,其中该验证 器检查一DMA结构,一碟片定义结构(Disc Definition Structure,简称DDS),一主缺陷列表(Primary Defect List,简 称PDL)结构及一次缺陷列表(Secondary Defect List,简称 SDL)结构,其形成该测试资讯,以及检查关于经由认 证所得知的实体缺陷之一G1-list之PDL项目是否存在 。 50.如申请专利范围第49项所述之装置,其中对于该 验证器检查该DMA结构是藉由检查该DMA之一错误条 件,DDS/PDL及SDL更新计数器以及该DMA之内容。 51.如申请专利范围第50项所述之装置,其中该验证 器检查是否有错误存在于四个DMA之任何一个中,其 为写在该测试碟片上之四个位置之该DMA,其中两个 位于该测试碟片上之一导入区域以及其中两个位 于该测试碟片上之一导出区域,在四个DDS中及在四 个SDL中之DDS/PDL更新计数器的値是否为"0",以及代 表执行经确认之初始化之前与之后之该些DDS/PDL更 新计数器之差异之该些DDS/PDL更新计数器之增量是 否全部为"1",八个DDS/PDL更新计数器的値是否相同, 在四个SDL中之SDL更新计数器的値是否为"0",以及代 表执行经确认之初始化之前与之后之该些SDL更新 计数器之差异之该些SDL更新计数器之增量是否为" 1",四个SDL更新计数器的値是否相同,以及四个DMA之 内容是否相同。 52.如申请专利范围第49项所述之装置,其中该验证 器检查DDS是藉由包括一DDS识别、一碟片认证旗号 、一DDS/PDL更新计数器、一群组的数目、一区段的 数目、一主备用区域的位置、以及一第一逻辑扇 区编号之位置及每一区段之一开始逻辑扇区编号 。 53.如申请专利范围第52项所述之装置,其中该验证 器检查该DDS识别是否为一预定値,在该碟片认证旗 号中之表示进行中之一位元的値及表示碟片制造 者认证之一位元的値是否皆为"0b",在该碟片认证 旗号中之表示使用者认证之一位元的値是否为"1b" ,该DDS/PDL更新计数器値是否为"0",代表执行经确认 之初始化之前与之后之该DDS/PDL更新计数器之差异 之该DDS/PDL更新计数器之增量是否为"1",该群组的 数目及该区段的数目是否分别为预定的数目,该主 备用区域之第一及最后扇区编号是否分别为预定 的扇区编号,该第一逻辑扇区编号之位置是否根据 注记在该PDL之缺陷数目来决定,以及每一区段之该 开始逻辑扇区编号是否根据注记在该PDL之缺陷数 目来决定。 54.如申请专利范围第49项所述之装置,其中该验证 器检查该PDL结构是藉由检查一PDL识别,在该PDL中之 项目数及该些PDL项目之完整性。 55.如申请专利范围第54项所述之装置,其中该验证 器检查该PDL识别是否为一预定値,该PDL中之项目数 是否与注记在该PDL之缺陷数目相同,以及该PDL项目 型态是否表示在使用者认证期间所检测到的缺陷 扇区之一G1-list,以及检查对应之缺陷扇区编号。 56.如申请专利范围第49项所述之装置,其中该验证 器检查该SDL结构是藉由检查一SDL识别,一SDL更新计 数器,一次备用区域(Secondary Spare Area,简称SSA)之一 开始扇区编号,逻辑扇区之一总数,一DDS/PDL更新计 数器,一备用区域满溢旗号,在该SDL中之项目数,及 该些SDL项目之完整性。 57.如申请专利范围第56项所述之装置,其中该验证 器检查该SDL识别是否为一预定値,该SDL更新计数器 値是否为"0"以及代表执行经确认之初始化之前与 之后之该SDL更新计数器之差异之该SDL更新计数器 之增量是否为"1",该DDS/PDL更新计数器値是否为"0", 代表执行经确认之初始化之前与之后之该DDS/PDL更 新计数器之差异之该DDS/PDL更新计数器之增量是否 为"1",该SSA之该开始扇区编号及逻辑扇区之该总数 是否正确地依照一使用者指定的该SSA之大小设定, 该备用区域满溢旗号是否指示该备用区域为未满 溢,在该SDL中之该项目数是否设定为"00h",以及关于 该些SDL项目之资讯是否不存在。 图式简单说明: 第1图是用以执行依照本发明之在经确认之初始化 后验证一光碟片之缺陷管理区域(Defect Management Area,简称DMA)资讯之方法之测试装置之方块图; 第2图是绘示为于经确认之初始化后对于验证DMA结 构所安排之检查项目之表格; 第3图是绘示为于经确认之初始化后对于验证碟片 定义结构(Disc Definition Structure,简称DDS)所安排之检 查项目之表格; 第4图是绘示为于经确认之初始化后对于验证主瑕 疵列表(Primary Defect List,简称PDL)所安排之检查项目 之表格; 第5图是绘示为于经确认之初始化后对于验证次缺 陷列表(Secondary Defect List,简称SDL)所安排之检查项 目之表格;以及 第6图是要在第1图所绘示之待测碟机之方块图。 |
