发明名称 制作超高伸张应力膜以及应变矽电晶体的方法
摘要 本发明披露一种制作超高伸张应力膜的方法,首先进行电浆加强化学气相沈积制程,于基底的表面上沈积一过渡氮化矽膜,且该过渡氮化矽膜具有一第一氢原子浓度,接着对该过渡氮化矽膜进行UV照射制程,将该过渡氮化矽膜的第一氢原子浓度降低至一第二氢原子浓度。
申请公布号 TW200629370 申请公布日期 2006.08.16
申请号 TW094141206 申请日期 2005.11.23
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 陈能国;蔡腾群;黄建中;陈再富;洪文瀚
分类号 H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人 许锺迪
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号