发明名称 光电装置用基板及该检查方法以及光电装置及电子机器
摘要 发明课题:不需要接触来自外部之探针等,则可实现取得充分测量精度之检查。解决手段:具备有互相交差之多数扫描线及多数讯号线;对应于上述多数扫描线及上述多数讯号线之交差而被配置成矩阵状之多数画素电极;具有被电性连接于上述讯号线,输入被供给至上述画素电极之第1电位讯号的第1端子,和输入当作参照电位之第2电位讯号的第2端子,比较上述第1电位讯号和上述第2电位讯号的电位,上述第1电位讯号为低时,则使上述第1端子之电位更低,且上述第1电位讯号为高时,则使上述第1端子之电位更高地予以输出,并且被设置成让上述多数讯号线,对应于上述第1及第2端子之至少一方的放大器;选择上述所对应之特定之多数讯号线中之一条讯号线的选择手段;和在上述放大器之上述第1及第2端子之至少一方,电性连接该所选择出之讯号线的连接手段。
申请公布号 TW200628817 申请公布日期 2006.08.16
申请号 TW094144524 申请日期 2005.12.15
申请人 精工爱普生股份有限公司 发明人 石井达也
分类号 G01R31/28;G02F1/133 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本