发明名称 积体电路装置及测试方法
摘要 一种积体电路装置,利用内建自我测试电路测试输入/输出单元的工作状态。内建自我测试电路具有型样产生器,用以产生连续的模拟信号。内建自我测试电路连续地储存并撷取输入/输出单元的输入/输出缓冲器的模拟信号。在每一次的储存并撷取时,内建自我测试电路的测试逻辑比较所储存及所撷取的模拟信号,用以判断其资料是否相等。若不相等,则测试逻辑发出异常信号。
申请公布号 TW200628820 申请公布日期 2006.08.16
申请号 TW095103460 申请日期 2006.01.27
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 陈克明
分类号 G01R31/3187;G01R31/26 主分类号 G01R31/3187
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号