| 发明名称 | 为调试电路提供安全性的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及调试电路(20)，以及更具体地说，涉及用于为调试电路(20)提供安全性的方法和装置。在一个实施例中，多个非易失元件(38)用于提供选择性地禁止和重新使能至少一部分调试电路(20)。也可以使用验证。本发明可以使用调试接口，包括标准调试接口，诸如由IEEE定义的JTAG调试接口。 | ||
| 申请公布号 | CN1820453A | 申请公布日期 | 2006.08.16 |
| 申请号 | CN200480019583.7 | 申请日期 | 2004.07.15 |
| 申请人 | 飞思卡尔半导体公司 | 发明人 | 威廉姆·C.·莫耶;托玛斯·E.·特卡希克 |
| 分类号 | H04L9/32(2006.01);H03K19/00(2006.01);G06F9/32(2006.01);G06F9/455(2006.01);G06F11/30(2006.01);G06F12/14(2006.01) | 主分类号 | H04L9/32(2006.01) |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王永刚 |
| 主权项 | 1.一种用于为调试电路提供安全性的方法，包括：提供调试电路，其中，使能调试电路；编程第一非易失元件，以便禁止调试电路；以及在编程第一非易失元件后，编程第二非易失元件以便执行重新使能调试电路和永久禁止调试电路的一个。 | ||
| 地址 | 美国得克萨斯 | ||