发明名称 一种用于测试MIPS处理器的设备
摘要 本发明提供一种用于测试MIPS处理器的设备。本发明采用测试主板与处理器分离的方式,该设备包括处理器子卡和测试主板两部分,该测试主板和处理器子卡之间通过SLOT1插槽连接。处理器子卡封装有待测的MIPS处理器、处理器倍频跳线电路和上电逻辑时序电路。处理器子卡根据不同封装、不同管脚排布的MIPS处理器进行封装,封装的处理器子卡的输出信号的排布应与测试主板的SLOT1插槽的信号输入排布方式相一致;从而每一次MIPS处理器设计升级后,只需要重新封装相应的处理器子卡就可以测试,而不需要更新整个设备。本发明的设备可以针对不同封装类型的MIPS处理器进行测试。
申请公布号 CN1818883A 申请公布日期 2006.08.16
申请号 CN200510007633.6 申请日期 2005.02.07
申请人 中国科学院计算技术研究所 发明人 张瑾;贺今朝;胡伟武
分类号 G06F11/22(2006.01) 主分类号 G06F11/22(2006.01)
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 代理人 高存秀
主权项 1.一种用于测试MIPS处理器的设备,其特征在于,包括处理器子卡和测试主板两部分,该测试主板和处理器子卡之间通过SLOT1插槽连接。
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