发明名称 | 一种用于测试MIPS处理器的设备 | ||
摘要 | 本发明提供一种用于测试MIPS处理器的设备。本发明采用测试主板与处理器分离的方式,该设备包括处理器子卡和测试主板两部分,该测试主板和处理器子卡之间通过SLOT1插槽连接。处理器子卡封装有待测的MIPS处理器、处理器倍频跳线电路和上电逻辑时序电路。处理器子卡根据不同封装、不同管脚排布的MIPS处理器进行封装,封装的处理器子卡的输出信号的排布应与测试主板的SLOT1插槽的信号输入排布方式相一致;从而每一次MIPS处理器设计升级后,只需要重新封装相应的处理器子卡就可以测试,而不需要更新整个设备。本发明的设备可以针对不同封装类型的MIPS处理器进行测试。 | ||
申请公布号 | CN1818883A | 申请公布日期 | 2006.08.16 |
申请号 | CN200510007633.6 | 申请日期 | 2005.02.07 |
申请人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明人 | 张瑾;贺今朝;胡伟武 |
分类号 | G06F11/22(2006.01) | 主分类号 | G06F11/22(2006.01) |
代理机构 | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人 | 高存秀 |
主权项 | 1.一种用于测试MIPS处理器的设备,其特征在于,包括处理器子卡和测试主板两部分,该测试主板和处理器子卡之间通过SLOT1插槽连接。 | ||
地址 | 100080北京市海淀区中关村科学院南路6号 |