发明名称 薄膜材料线膨胀系数的间接测量方法
摘要 一种薄膜材料线膨胀系数的间接测量方法,其步骤:①要求测试系统的下夹具(2)、上夹具(5)、反向支撑杆(3)和反向联结杆(8)四个部件选用同一种材料(不锈钢材料)。②在测量前对测试系统进行标定,标定样品必须与上述四个部件材料相同。③测量系统标定后,在室温下将被测薄膜样品(4)固定在上夹具(5)和下夹具(2)上,再安装到试验机(1)上,拉伸到样品破坏载荷的5%左右,记录下样品的应力值和环境温度。④进行温控实验,记录下不同时刻的应力和温度值。⑤利用α<SUB>i</SUB>=σ<SUB>i+1</SUB>-σ<SUB>1</SUB>/E(T<SUB>i</SUB>-T<SUB>i-1</SUB>)公式计算被测薄膜样品(4)在任意温度区间的线膨胀系数。⑥根据计算结果得到被测薄膜样品(4)从T<SUB>0</SUB>至T<SUB>n</SUB>整个温度区内的线膨胀系数。本发明原理简单,测量方便,可在不同温区对薄膜材料的线膨胀系数进行测量。
申请公布号 CN1270177C 申请公布日期 2006.08.16
申请号 CN200410042675.9 申请日期 2004.06.01
申请人 北京交通大学 发明人 王正道;兑关锁;金明;蒋少卿;汪越胜;赵欣欣;卢建军
分类号 G01N25/16(2006.01) 主分类号 G01N25/16(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.薄膜材料线膨胀系数的间接测量方法,该方法的具体步骤:①选择测试系统,要求测试系统中的下夹具(2)、上夹具(5)、反向支撑杆(3)和反向联结杆(8)四个部件必须选用同一种材料;②在测量前对测试系统进行标定,标定样品必须与上述四个部件材料相同;③测量系统标定后,在室温下将被测薄膜样品(4)固定在上夹具(5)和下夹具(2)上,再安装到试验机(1)上,进行预拉伸,拉伸到样品破坏载荷的5%,保持载荷不变,记录下样品的应力值σ0和环境温度T0;④在试验机上安装控温箱(6),进行温控实验,记录下不同时刻值(σ1,T1),(σ2,T2),…(σn,Tn);⑤利用下面公式计算被测薄膜样品(4)在任意温度区间Ti~Ti+1(i=0~n-1)的线膨胀系数αi值;<math> <mrow> <msub> <mi>&alpha;</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <msub> <mi>&sigma;</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>+</mo> <mn>1</mn> </mrow> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>&sigma;</mi> <mi>i</mi> </msub> </mrow> <mrow> <mi>E</mi> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>T</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>T</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>-</mo> <mn>1</mn> </mrow> </msub> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> </mfrac> </mrow> </math> E为被测薄膜样品的杨氏模量;⑥根据计算结果得到被测薄膜样品(4)从T0至Tn整个温度区内的线膨胀系数。
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