用于JTAG测试的器件和方法

摘要

为了实现对包括在其内部具有不支持JTAG测试的输入/输出端子的半导体器件在内的印刷电路板的JTAG测试，一个器件在逻辑上被分为诸如支持JTAG测试的器件和不支持JTAG测试的器件这样的两个器件，边界扫描FF被插入到这两个器件之间，以与用相同方式配置的另一器件组合起来，并且两个器件的不支持JTAG测试的部分被等同地组合，从而被当作一个不支持JTAG测试的器件。然后，该器件被夹到支持JTAG测试的器件之间，并且进行JTAG测试。

主权项

1.一种半导体器件，包括：用于高速接口的不支持JTAG测试的外部端子，其中JTAG测试即为联合测试行动组测试；支持JTAG测试的外部端子；和高速输入/输出电路，用于在所述用于高速接口的不支持JTAG测试的外部端子与内部电路之间输入/输出信号，其特征在于在所述内部电路和所述高速输入/输出电路之间配备边界扫描触发器。