| 主权项 |
1.一种用于动态电磁干扰(EMI)管理之方法,包含下 列步骤: 判定一装置是否在被其他使用者占用之一电磁频 谱的一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI);以及 若判定该装置在被其他使用者占用之该电磁频谱 的一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI),则: 降低该一个或多个区域中之该电磁干扰(EMI);以及 提高未被其他使用者占用之该电磁频谱的一个或 多个其他区域中之该电磁干扰(EMI)。 2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该降低该 一个或多个区域中之该电磁干扰(EMI)的动作包含 由该一个或多个区域去除该电磁干扰(EMI)。 3.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该方法包 含判定该装置是否非故意地在被其他使用者占用 之一电磁频谱的一个或多个区域中发射电磁干扰( EMI),及包含若判定该装置非故意地在被其他使用 者占用之一电磁频谱的一个或多个区域中发射电 磁干扰(EMI),则降低该一个或多个区域中的该电磁 千扰(EMI),并提高一个或多个其他区域中之该电磁 干扰(EMI)。 4.如申请专利范围第3项所述之方法,其中该装置非 故意地在由获授权使用者占用之一射频频谱的一 个或多个区域中发射电磁干扰(EMI),且该提高该电 磁干扰(EMI)之动作造成提高未被该等获授权使用 者占用之该射频频谱的一个或多个其他区域中之 该电磁干扰(EMI)。 5.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该判定该 装置是否在由其他使用者占用之该电磁频谱的一 个或多个区域中发射电磁干扰(EMI)之动作包含: 判定其他使用者在该装置位置之出现;以及 判定在该装置位置被该等其他使用者占用之该电 磁频谱的该一个或多个区域。 6.如申请专利范围第5项所述之方法,其中该判定其 他使用者在该装置位置之出现的动作包含: 判定该装置之一位置;以及 存取在该位置之一使用者资料库。 7.如申请专利范围第5项所述之方法,其中该判定其 他使用者在该装置位置之出现的动作包含聆听以 判断是否有其他使用者出现。 8.如申请专利范围第5项所述之方法,其中该判定其 他使用者在该装置位置之出现的动作包含判定在 该位置获授权的其他使用者之出现。 9.一种用于动态电磁干扰(EMI)管理之方法,包含下 列步骤: 判定是否一装置在其他使用者于一电磁频谱中出 现时发射电磁干扰(EMI);以及 若判定该装置在其他使用者于该电磁频谱中出现 时发射电磁干扰(EMI),则: 判定该装置之目前位置是否与该装置之先前位置 相同;以及 若该目前位置与该先前位置相同,则; 降低被该等其他使用者占用之该电磁频谱的一个 或多个区域中之该电磁干扰(EMI);以及 提高未被该等其他使用者占用之该电磁频谱的该 一个或多个其他区域中之该电磁干扰(EMI)。 10.如申请专利范围第9项所述之方法,额外地包含 若该目前位置与该先前位置不相同,则: 判定被该等其他使用者占用之该电磁频谱的一个 或多个区域; 降低在该一个或多个区域中之该电磁干扰(EMI);以 及 提高未被该等其他使用者占用之该电磁频谱的一 个或多个其他区域中之该电磁干扰(EMI)。 11.如申请专利范围第9项所述之方法,其中该方法 包含判定是否该装置非故意地在该电磁频谱中发 射电磁干扰(EMI)。 12.如申请专利范围第11项所述之方法,其中该装置 非故意地在获授权使用者在一射频频谱出现时发 射电磁干扰(EMI),且该提高该电磁干扰(EMI)之动作 造成提高未被该等获授权使用者占用之该射频频 谱的一个或多个其他区域中之该电磁干扰(EMI)。 13.一种用于动态电磁干扰(EMI)管理之方法,包含下 列步骤: 判定是否一装置在一电磁频谱之一个或多个区域 以不可接受的位准发射电磁干扰(EMI);以及 若判定一装置在一电磁频谱之一个或多个区域以 不可接受的位准发射电磁干扰(EMI),则: 降低该一个或多个区域中之该电磁干扰(EMI);以及 提高未被其他使用者占用之该电磁频谱的一个或 多个其他区域中之该电磁干扰(EMI)。 14.如申请专利范围第13项所述之方法,其中该装置 为一非通讯装置。 15.如申请专利范围第13项所述之方法,其中该电磁 频谱包含一射频频谱。 16.一种用于动态电磁干扰(EMI)管理之装置,包含: 能判定一装置是否在被其他使用者占用之一电磁 频谱的一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI)的电 路;以及 若判定该装置在被其他使用者占用之一电磁频谱 的该一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI),则该电 路更可: 降低该一个或多个区域中之该电磁干扰(EMI);以及 提高未被该等其他使用者占用之该电磁频谱的一 个或多个其他区域中之该电磁干扰(EMI)。 17.如申请专利范围第16项所述之装置,其中该电路 额外地能由该一个或多个区域去除该电磁干扰(EMI )。 18.如申请专利范围第16项所述之装置,其中该电路 额外地能判定该装置是否非故意地在被其他使用 者占用之一电磁频谱的一个或多个区域中发射EMI, 及若该电路判定该装置非故意地在被其他使用者 占用之一电磁频谱的一个或多个区域中发射电磁 干扰(EMI),尚能降低在该一个或多个区域中的该EMI, 并提高在一个或多个其他区域中之该电磁干扰(EMI )。 19.如申请专利范围第18项所述之装置,其中该装置 非故意地在由获授权使用者占用之一射频频谱的 一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI),且该电路另 可提高未被该等获授权使用者占用之该射频频谱 的一个或多个其他区域中之该电磁干扰(EMI)。 20.如申请专利范围第16项所述之装置,其中该电路 额外地能: 判定其他使用者在该装置之位置出现;以及 判定在该装置位置被该等其他使用者占用之该电 磁频谱的该一个或多个区域。 21.如申请专利范围第20项所述之装置,该其中该电 路额外地能: 判定该装置之一位置;以及 存取在该位置之一使用者资料库。 22.一种用于动态电磁干扰(EMI)管理之系统,包含: 可发射电磁干扰(EMI)之一通讯装置;以及 可执行下列动作之电路: 判定该通讯装置是否在被其他使用者占用之一电 磁频谱的一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI);以 及 若判定该通讯装置在被其他使用者占用之一电磁 频谱的该一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI),则: 降低该一个或多个区域中之该电磁干扰(EMI);以及 提高未被该等其他使用者占用之该电磁频谱的一 个或多个其他区域中之该电磁干扰(EMI)。 23.如申请专利范围第22项所述之系统,其中该电路 额外地能由该一个或多个区域去除该电磁干扰(EMI )。 24.如申请专利范围第22项所述之系统,其中该电路 额外地能判定该通讯装置是否非故意地在被其他 使用者占用之一电磁频谱的一个或多个区域中发 射电磁干扰(EMI),及若该电路判定该通讯装置非故 意地在被其他使用者占用之一电磁频谱的一个或 多个区域中发射电磁干扰(EMI),尚能降低在该一个 或多个区域中的该电磁干扰(EMI),并提高在一个或 多个其他区域中之该电磁干扰(EMI)。 25.如申请专利范围第24项所述之系统,其中该通讯 装置非故意地在由获授权使用者占用之一射频频 谱的一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI),且该电 路另可提高未被该等获授权使用者占用之该射频 频谱的一个或多个其他区域中之该电磁干扰(EMI) 。 26.如申请专利范围第22项所述之系统,其中该电路 额外地能: 判定其他使用者在该装置之位置出现;以及 判定在该装置位置被该等其他使用者占用之该电 磁频谱的该一个或多个区域。 27.一种储存有指令之机器可读取媒体,该等指令在 由一机器执行时造成下列动作: 判定一装置是否在被其他使用者占用之一电磁频 谱的一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI);以及 若判定该装置在被其他使用者占用之该电磁频谱 的一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI),则: 降低该一个或多个区域中之该电磁干扰(EMI);以及 提高未被该等其他使用者占用之该电磁频谱的一 个或多个其他区域中之该电磁干扰(EMI)。 28.如申请专利范围第27项所述之机器可读取媒体, 其中该等指令在由一机器执行时,会使该降低在该 一个或多个区域中之该电磁干扰(EMI)的动作,额外 地造成由该一个或多个区域去除该电磁干扰(EMI) 。 29.如申请专利范围第27项所述之机器可读取媒体, 其中该等指令在由一机器执行时,会使该判定该装 置是否发射电磁干扰(EMI)之动作,额外进行判定该 装置是否非故意地在被其他使用者占用之一电磁 频谱的一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI),及若 判定该装置非故意地在被其他使用者占用之一电 磁频谱的一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI),则 降低在该一个或多个区域中的该电磁干扰(EMI),并 提高在一个或多个其他区域中之该电磁干扰(EMI) 。 30.如申请专利范围第29项所述之机器可读取媒体, 其中该装置非故意地在由获授权使用者占用之一 射频频谱的一个或多个区域中发射电磁干扰(EMI), 且其中该等指令在由一机器执行时,会使该提高该 电磁干扰(EMI)动作,额外造成提高未被该等获授权 使用者占用之该射频频谱的一个或多个其他区域 中之该电磁干扰(EMI)。 图式简单说明: 第1图显示一系统实施例。 第2图为一流程图,显示依据一实施例之方法。 第3图为一流程图,显示依据另一实施例之方法。 第4图为一流程图,显示依据另一实施例之方法。 |
