发明名称 |
Technik zur Erhöhung der Prozessflexibilität während der Herstellung von Kontaktdurchführungen und Gräben in Zwischenschichtdielektrika mit kleinem epsilon |
摘要 |
In einem Ätzprozess zur Herstellung von Kontaktdurchführungsöffnungen und Grabenöffnungen in einer dielektrischen Schicht mit kleinem epsilon wird der Materialabtrag einer darunter liegenden Ätzstoppschicht von dem Ätzen durch das Dielektrikum mit kleinem epsilon entkoppelt, indem das Verringern der Dicke im Wesentlichen während des Lackentfernens erreicht wird. Für diesen Zweck kann die Lackplasmaätzung entsprechend so gesteuert werden, dass die gewünschte Solldicke der Ätzstoppschicht erreicht wird, wobei Fluor aus einer externen Quelle zugeführt werden kann und/oder wobei Fluor in gesteuerter Weise aus Polymerschichten gewonnen werden kann, die innerhalb der Ätzkammer abgeschieden sind.
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申请公布号 |
DE102005004409(A1) |
申请公布日期 |
2006.08.10 |
申请号 |
DE200510004409 |
申请日期 |
2005.01.31 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES, INC. |
发明人 |
WERNER, THOMAS;SCHALLER, MATTHIAS;AMINPUR, MASSUD |
分类号 |
H01L21/311;H01L21/283 |
主分类号 |
H01L21/311 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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