| 摘要 |
<p>Использование: для контроля толщины покрытия на подложке. Сущность заключается в том, что сопоставляются прологарифмированные значения, ослабленного подложкой и покрытием потока первичного излучения и потока ренгенофлуоресцентного излучения покрытия, возбужденного в нем первичным излучением, прошедшим через подложку. Технический результат: повышение надежности контроля при случайно изменяющихся параметрах подложки. 1 н.п. ф-лы, 1 ил.</p> |
