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发明名称 DIGITAL TEST EQUIPMENT FOR TESTING ANALOG SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 KR20060089948(A) 申请公布日期 2006.08.10
申请号 KR20050010225 申请日期 2005.02.03
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 JANG, JIN MO;KIM, YOUNG BU;KIM, JUNG HYE
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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