发明名称 差压式流量计及差压式流量控制装置
摘要 本发明的课题在于使差压式流量计的构造简化而实现制造成本的降低,并且能够在100%~1%的较广的流量范围内实时地且以在线状态进行误差(E)为(1%SP)以下的高精度的流量计测。为此,在包括孔口测流计、孔口测流计上游侧的压力(P<sub>1</sub>)的检测器、孔口测流计下游侧的流体压力(P<sub>2</sub>)的检测器、孔口测流计上游侧的流体温度(T)的检测器、利用来自上述各检测器的检测压力(P<sub>1</sub>、P<sub>2</sub>)及检测温度(T)运算流过孔口测流计的流体流量(Q)的控制运算电路的差压式流量计中,根据<img file="200480018993.x_ab_00.GIF" wi="1093" he="71" />(其中,C<sub>1</sub>为比例常数,m和n为常数)来运算前述流体流量(Q)。
申请公布号 CN1816733A 申请公布日期 2006.08.09
申请号 CN200480018993.X 申请日期 2004.06.18
申请人 株式会社富士金;大见忠弘 发明人 大见忠弘;杉山一彦;宇野富雄;池田信一;西野功二;中村修;土肥亮介;松本笃谘
分类号 G01F1/42(2006.01);G01F1/50(2006.01);G01F7/00(2006.01) 主分类号 G01F1/42(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 温大鹏;杨松龄
主权项 1.一种差压式流量计,包括:孔口测流计、孔口测流计上游侧的压力(P1)的检测器、孔口测流计下游侧的流体压力(P2)的检测器、孔口测流计上游侧的流体温度(T)的检测器、及利用来自上述各检测器的检测压力(P1、P2)和检测温度(T)来运算流过孔口测流计的流体流量(Q)的控制运算电路,其特征在于,根据Q=C1·P1/T·[(P2/P1)m-(P2/P1)n]1/2(其中,C1为比例常数,m及n为常数)来运算上述流体流量(Q)。
地址 日本大阪府