发明名称 |
利用薄钌间隔层和高磁场退火的增强反平行被钉扎传感器 |
摘要 |
本发明提供具有间隔层的反平行被钉扎传感器,所述间隔层提高了该传感器的反平行耦合强度。该反平行被钉扎传感器是GMR或TMR传感器,其具有纯钌或钌合金间隔层。间隔层的厚度小于0.8nm,优选在0.1和0.6nm之间。间隔层还在1.5特斯拉或更高且优选大于5特斯拉的磁场中退火。该设计产生意想不到的结果,是利用0.8nm厚且在约1.3特斯拉的较低磁场中退火的钌间隔层的普通AP被钉扎GMR和TMR传感器的钉扎场的三倍以上。 |
申请公布号 |
CN1815561A |
申请公布日期 |
2006.08.09 |
申请号 |
CN200610005181.2 |
申请日期 |
2006.01.13 |
申请人 |
日立环球储存科技荷兰有限公司 |
发明人 |
李文扬;李晋山;丹尼尔·莫里;西冈浩一;田岛康成 |
分类号 |
G11B5/39(2006.01);H01F10/32(2006.01) |
主分类号 |
G11B5/39(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
李晓舒;魏晓刚 |
主权项 |
1.一种提高传感器的耦合强度的方法,该方法包括:(a)提供具有小于0.8nm的厚度的钌间隔层;(b)形成具有所述钌间隔层的传感器;以及(c)在1.5特斯拉或更高的磁场中退火所述钌间隔层。 |
地址 |
荷兰阿姆斯特丹 |