发明名称 形成半导体存储器阵列的方法及由此制造的存储器阵列
摘要 一种形成浮栅存储单元的阵列的方法,以及由此形成的一种阵列,该阵列包括形成在衬底中的源区和漏区,布置在源区上的材料的导电块。浮栅形成为具有布置在沟道区上的第一部分和垂直于导电块延伸的第二部分的薄的L形导电材料层。控制栅包括与浮栅第一部分的远端相邻布置并与其绝缘的第一部分和与沟道区相邻地布置的第二部分。控制栅的一部分可延伸进入形成在衬底中的沟槽,其中漏区形成在沟槽的下方,并且沟道区具有沿沟槽的侧壁延伸的第一部分和沿衬底表面延伸的第二部分。
申请公布号 CN1269218C 申请公布日期 2006.08.09
申请号 CN03108413.3 申请日期 2003.03.31
申请人 硅存储技术公司 发明人 S·基尔尼安
分类号 H01L27/115(2006.01);H01L21/8247(2006.01);H01L29/788(2006.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L27/115(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 吴立明;梁永
主权项 1.一种电可编程和可擦除的存储器件的阵列,它包括:具有第一导电类型的半导体材料的衬底和表面;形成在衬底上的分开的隔离区,它们基本上相互平行并沿第一方向延伸,每对相邻的隔离区之间具有有源区;每个有源区包括多个存储单元,每个存储单元包括:形成在衬底中的并具有第二导电类型的第一和第二分开的区,其间在衬底中规定的沟道区具有第一和第二部分,导电的浮栅具有在其第一端以L型方式接合在一起的第一和第二延长部分,其中浮栅第一部分沿沟道区第二部分延伸并与其绝缘,用于控制沟道区第二部分的导电性,并且其中浮栅第二部分定位为与第一区电容性耦合,并且导电的控制栅布置为与沟道区第一部分相邻并与其绝缘,用于控制沟道区第一部分的导电性。
地址 美国加利福尼亚州