发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST METHOD THEREOF
摘要
申请公布号 KR100610716(B1) 申请公布日期 2006.08.09
申请号 KR20040032191 申请日期 2004.05.07
申请人 发明人
分类号 G01R31/28;G11C16/02;G11C16/04;G11C16/06;G11C16/08;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/12;G11C29/26 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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