发明名称 |
用于避免太阳黑效应的CMOS图像传感器的列模数转换器 |
摘要 |
本发明提供了一种用于在CMOS图像传感器(CIS)中避免太阳黑效应的模数(ADC)电路。该ADC电路包括:具有信号电压输入端口和参考电压输入端口的比较器,其在重置采样时段将从多个CIS像素中的一个输出的重置电压与参考电压进行比较,并当所述重置电压低于所述参考电压时输出溢出传感信号;以及将所述比较器的输出转换成数字数据的数字比较器,其中该数字比较器包括第一锁存器,当在重置采样时段的第一部分中比较器输出溢出传感信号时,该第一锁存器存储该溢出信号,并响应于该溢出传感信号,在信号采样时段中输出指示溢出的标志信号。 |
申请公布号 |
CN1812508A |
申请公布日期 |
2006.08.02 |
申请号 |
CN200610006796.7 |
申请日期 |
2006.01.28 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
林秀宪 |
分类号 |
H04N5/335(2006.01) |
主分类号 |
H04N5/335(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
邵亚丽;李晓舒 |
主权项 |
1.一种CMOS图像传感器(CIS)的列模数转换器(ADC)电路,该列ADC电路包括:比较器,其具有信号电压输入端口和参考电压输入端口,在重置采样时段中,该比较器将从多个CIS像素之一输出的重置电压与参考电压进行比较,并在该重置电压低于参考电压时输出溢出传感信号;和数字转换器,其将比较器的输出转换成数字数据,其中,该数字转换器包括第一锁存器,当在重置采样时段的第一部分期间从比较器输出所述溢出传感信号时,该第一锁存器存储该溢出传感信号,并响应于该溢出传感信号在信号采样时段中输出指示溢出的标志信号。 |
地址 |
韩国京畿道 |