发明名称 基于相移的光栅投影式三维轮廓测量装置及测量方法
摘要 基于相移的光栅投影式三维轮廓测量装置及测量方法,包括支架以及设置在支架上的平台,在平台上设置有投影系统一和成像系统二,在投影系统一和成像系统二前端设置有参考面,成像系统二包括成像镜头和CCD相机,CCD相机通过图像采集卡与计算机相连接,投影系统一包括照明系统和设置在照明光路中的空间光调制器及投影镜头,空间光调制器通过视频分配器和图像卡与计算机相连接;本发明把具有正弦分布的光栅图形用可控制的投影仪投影到被测物体上,由计算机控制投影条纹完成相移过程,用CCD摄象机、图像采集卡和计算机采集并处理得到的系列变形光栅像,求出物体的三维面形。
申请公布号 CN1267699C 申请公布日期 2006.08.02
申请号 CN200410026180.7 申请日期 2004.05.27
申请人 西安交通大学 发明人 蒋庄德;田爱玲;黄梦涛;李兵
分类号 G01B21/20(2006.01);G06T15/00(2006.01) 主分类号 G01B21/20(2006.01)
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 代理人 徐文权
主权项 1、基于相移的光栅投影式三维轮廓测量装置,包括支架[17]以及设置在支架[17]上的平台[14],在平台[14]上设置有投影系统一和成像系统二,在投影系统一和成像系统二前端设置有参考面[10],其特征在于:成像系统二包括成像镜头[9]和CCD相机[8],CCD相机[8]通过图像采集卡[4]与计算机[6]相连接,投影系统一包括照明系统[13]和设置在照明光路中的空间光调制器[12]及投影镜头[7],空间光调制器[12]通过视频分配器[3]和图像卡[5]与计算机[6]相连接。
地址 710049陕西省西安市咸宁路28号