| 发明名称 | 实现正相位对比的相位环 | ||
| 摘要 | 本发明涉及由移相的薄层系统组成的一种相位环，此薄层系统在粘结系统的情况下具有一种构造：(第一)衬底-Ag-n<SUB>H</SUB>-粘结剂-(第二)衬底，或具有一种构造：(第一)衬底-n<SUB>1</SUB>-Ag-n<SUB>2</SUB>-粘结剂-(第二)衬底，而在未粘接系统的情况下具有一种构造：衬底-Ag-n<SUB>H</SUB>-空气。以n<SUB>H</SUB>、n<SUB>1</SUB>或n<SUB>2</SUB>表示了一个介电层的各自的折射率。可以有针对性地调定正相位对比的相移。 | ||
| 申请公布号 | CN1267761C | 申请公布日期 | 2006.08.02 |
| 申请号 | CN200410031776.6 | 申请日期 | 1998.08.03 |
| 申请人 | 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司 | 发明人 | S·阿特－内德韦德科;C·贡克尔 |
| 分类号 | G02B21/14(2006.01) | 主分类号 | G02B21/14(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王忠忠 |
| 主权项 | 1.用于实现一种正相位对比的相位环，其特征在于，相位环由具有构造：第一衬底-n1-Ag-n2-粘结剂-第二衬底的移相薄层系统组成，在此n1是生成移相λ的层的折射率，n2是保护银层的折射率，并且在此介于两个衬底之间的间隙是粘结剂填满的，使得在折射率为n2的层和第二衬底之间保留一个贯通的粘结剂网格。 | ||
| 地址 | 联邦德国韦茨拉尔 | ||