| 发明名称 | 反复试验多比特纠错 | ||
| 摘要 | 本发明的实施方案是一种使用反复试验技术执行纠错的技术。检验子生成器提供根据至少一个纠错参数的选择进行修改的数据字的数据检验子的生成。数据字与在一个单元上执行的至少一个事务相关联。控制器控制迭代数据检验子的生成。 | ||
| 申请公布号 | CN1811720A | 申请公布日期 | 2006.08.02 |
| 申请号 | CN200610002302.8 | 申请日期 | 2006.01.26 |
| 申请人 | 英特尔公司 | 发明人 | 亨克·尼夫斯;艾伦·鲍姆 |
| 分类号 | G06F11/00(2006.01) | 主分类号 | G06F11/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 | 代理人 | 齐永红 |
| 主权项 | 1.一种装置，包括：检验子生成器，所述检验子生成器提供根据至少一个纠错参数的选择进行修改的数据字的数据检验子的生成，所述数据字与在一个单元上执行的至少一个事务相关联；以及耦合到所述检验子生成器的控制器，所述控制器控制迭代所述数据检验子的生成。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||