测试装置

摘要

本发明提供一种测试装置，其可平行地对多个电子装置进行测试，此测试装置具备：多个逻辑比较电路，其对应于多个电子装置而设置，使相对应的电子装置之每个各别的接脚的失效资讯串列地输出；串列(serial)读出部，其将各别的逻辑比较电路所判定的失效资讯串列地由每个接脚中读出；或闸部，其算出每个各别的电子装置中串列读出部所读出的失效资讯的逻辑和，以便在每个各别的电子装置中产生一种装置失效资讯；以及一种及闸部，其算出各或闸部所产生的装置失效资讯的逻辑积，在全部的装置失效资讯存在着失效的情况下产生一种显示此”失效”用的总失效资讯。