发明名称 内嵌式自我测试(BIST)电路与方法以及电脑可读取记录媒体
摘要 本发明提出一种内嵌式自我测试(BIST)电路与方法以及电脑可读取记录媒体。BIST电路可使系统自我测试其中之待测电路。其中系统更包含单元电路,该单元电路之多个输入端分别耦接多个讯号路径,此单元电路之输出端耦接至待测电路。闸电路之输出端耦接于单元电路其中之一输入端,闸电路其中一输入端耦接各讯号路径中之非关键延迟路径(non–timing–critical path),另一输入端接收测试讯号。当系统操作于测试模式时,BIST控制器提供测试讯号,使测试讯号经由闸电路、单元电路以测试待测电路。
申请公布号 TW200627461 申请公布日期 2006.08.01
申请号 TW094102287 申请日期 2005.01.26
申请人 智原科技股份有限公司 发明人 陈崇辉
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行一路10之2号