发明名称 | 内嵌式自我测试(BIST)电路与方法以及电脑可读取记录媒体 | ||
摘要 | 本发明提出一种内嵌式自我测试(BIST)电路与方法以及电脑可读取记录媒体。BIST电路可使系统自我测试其中之待测电路。其中系统更包含单元电路,该单元电路之多个输入端分别耦接多个讯号路径,此单元电路之输出端耦接至待测电路。闸电路之输出端耦接于单元电路其中之一输入端,闸电路其中一输入端耦接各讯号路径中之非关键延迟路径(non–timing–critical path),另一输入端接收测试讯号。当系统操作于测试模式时,BIST控制器提供测试讯号,使测试讯号经由闸电路、单元电路以测试待测电路。 | ||
申请公布号 | TW200627461 | 申请公布日期 | 2006.08.01 |
申请号 | TW094102287 | 申请日期 | 2005.01.26 |
申请人 | 智原科技股份有限公司 | 发明人 | 陈崇辉 |
分类号 | G11C29/00 | 主分类号 | G11C29/00 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行一路10之2号 |