用于使用标准可重新组配逻辑装置之积体电路或电子模组的低成本测试

摘要

在此系叙述用于使用可重新组配逻辑装置之积体电路或电子模组的低成本测试。一实施例中，本发明系包括组配一可重新组配逻辑装置以符合受测装置的输入标准、施加测试信号于该受测装置、侦测该受测装置的输出结果、以及分析侦测到的输出结果。