发明名称 | 非挥发性记忆体的制造方法 | ||
摘要 | 一种非挥发性记忆体的制造方法,此方法系先提供基底,且此基底上已形成有穿隧层与浮置闸极层。然后,于浮置闸极层上形成罩幕层,且此罩幕层具有开口而暴露出部分的浮置闸极层。接着,移除开口中之部分的浮置闸极层,以使此浮置闸极层表面凹陷。之后,于浮置闸极层上形成闸间介电层。继之,于闸间介电层上形成控制闸极层。然后,移除罩幕层以及位于罩幕层下方之浮置闸极层以形成另一开口。接着于此开口中填入选择闸极层 | ||
申请公布号 | TW200627592 | 申请公布日期 | 2006.08.01 |
申请号 | TW094102599 | 申请日期 | 2005.01.28 |
申请人 | 力晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 陈琮珑;郭辉宏;许正源;洪至伟 |
分类号 | H01L21/8246 | 主分类号 | H01L21/8246 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号 |