| 主权项 |
1.一种用于平面显示面板之退货品解析流程控管 方法,系配合一资料库与一条码机制,条码机制系 包括复数个不同种类之条码与一扫瞄器,并在一不 良品面板上贴附经由该资料库产生之一产品识别 条码,该退货品解析流程控管方法主要包括下述步 骤: (A)对该不良品面板进行面板亮度解析,并贴附一相 对应之第一面板解析条码,继而拆解该不良品面板 ; (B)对该已拆解之不良品面板的至少一控制积体电 路(IC)与该不良品面板连接处进行检测,并贴附一 第二面板解析条码或一第三面板解析条码; (C)将该至少一控制积体电路由该不良品面板拆解, 以对该至少一积体电路进行检测,并贴附一第四面 板解析条码;以及 (D)以一扫瞄器读取该不良品面板之产品识别条码, 俾供辨识该不良品面板,继而透过该扫瞄器读取该 等面板解析条码,以将解析结果输入至该资料库, 俾供输出一解析表单。 2.如申请专利范围第1项所述之退货品解析流程控 管方法,其中该不良品面板系为具有缺陷之薄膜电 晶体液晶显示(TFT-LCD)面板。 3.如申请专利范围第1项所述之退货品解析流程控 管方法,其中该资料库具有复数记录栏位,以输入 该不良品之解析结果。 4.如申请专利范围第1项所述之退货品解析流程控 管方法,其中该资料库更能连结于一般电脑系统之 文书处理应用程式,且该资料库更能新增或嵌入其 他应用程式(AP)。 5.如申请专利范围第1项所述之退货品解析流程控 管方法,其中于步骤(A)中,该面板亮度解析系对该 不良品面板进行背光点灯处理,以检测出该不良品 面板发生白点或亮点不良之位置。 6.如申请专利范围第1项所述之退货品解析流程控 管方法,其中于步骤(B)中,系利用一光学显微镜或 电荷耦合显微镜(CCD)检查该至少一控制积体电路 与该不良品面板之连接情形。 7.如申请专利范围第1项所述之退货品解析流程控 管方法,其中于步骤(C)中,系利用一示波器与至少 一探针对该至少一控制积体电路之接脚进行电器 特性测试。 8.如申请专利范围第1项所述之退货品解析流程控 管方法,其中该第一面板解析条码、第二面板解析 条码、第三面板解析条码、以及第四面板解析条 码系贴附于一管理票上,该管理票则贴附于该不良 品面板上。 9.如申请专利范围第1项所述之退货品解析流程控 管方法,其中该第一面板解析条码、第二面板解拆 条码、第三面板解析条码、第四面板解析条码、 以及产品识别条码系为三九码。 图式简单说明: 第1图系本发明之平面显示面板之退货品解析流程 图。 第2图系本发明之不良品项目之条码示意图。 |
