发明名称 双测试天线之测试室
摘要 一种双测试天线之测试室,用以进行一电子装置的电磁波相关测试,主要系具有一天线架可选择性装设一测试天线,以使电子装置之二电磁波相关测试可共用一测试室,并且能减少搬动测试天线所产生之测试误差。
申请公布号 TW200626916 申请公布日期 2006.08.01
申请号 TW094101595 申请日期 2005.01.19
申请人 神达电脑股份有限公司 发明人 杨华青
分类号 G01R31/00;G01R29/08 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人 许世正
主权项
地址 桃园县龟山乡文化二路200号