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经营范围
发明名称
双测试天线之测试室
摘要
一种双测试天线之测试室,用以进行一电子装置的电磁波相关测试,主要系具有一天线架可选择性装设一测试天线,以使电子装置之二电磁波相关测试可共用一测试室,并且能减少搬动测试天线所产生之测试误差。
申请公布号
TW200626916
申请公布日期
2006.08.01
申请号
TW094101595
申请日期
2005.01.19
申请人
神达电脑股份有限公司
发明人
杨华青
分类号
G01R31/00;G01R29/08
主分类号
G01R31/00
代理机构
代理人
许世正
主权项
地址
桃园县龟山乡文化二路200号
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