发明名称 中继构件及检查探针治具
摘要 本发明系提供一种可抑制检查信号等电气信号之传送特性的恶化,并且容易制造之中继构件及检查探针治具。本发明之检查探针治具系具备:具有与检查对象所具备的端子接触的探针之探针单元(1);一端为电性连接于探针单元(1)所具备的探针之复数条导电单股线(2);一端为连接于导电单股线(2)的另一端之复数条同轴电缆(3);将与导电单股线(2)连接之同轴电缆(3)的一端近旁的部分,保持在预定的位置之中继构件(4);及将同轴电缆(3)的另一端加以固定之检查基板(5)。此外,中继构件(4)系具备保持部(7),对于复数条同轴电缆(3),该保持部(7)系以,与各自连接于形成在检查基板(5)之复数个连接端子(20)之一端的配列顺序为相同之顺序之方式,将另一端加以保持。
申请公布号 TW200626906 申请公布日期 2006.08.01
申请号 TW094141841 申请日期 2005.11.29
申请人 发条股份有限公司 发明人 石川重树;中山浩志;仁平崇
分类号 G01R1/067;H01L21/66;G01R31/26 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本