| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Spektralanalyse von Metallproben mit folgenden Schritten: DOLLAR A a. Aufnehmen eines Spektrums einer unbekannten Probe mit einer Anzahl von voreingestellten Anregungsparametern, DOLLAR A b. Vergleichen des Spektrums mit gespeicherten Spektren einer Anzahl von Leitproben, DOLLAR A c. Ermitteln der Leitprobe mit der besten Übereinstimmung der Spektren, DOLLAR A d. Einstellen der Anregungsparameter, die zu der im Schritt c. ermittelten besten nächstkommenden Leitprobe gespeichert sind, DOLLAR A e. Aufnehmen des Spektrums der unbekannten Probe mit den im Schritt d. eingestellten Anregungsparametern, DOLLAR A f. Berechnen der Intensitätsverhältnisse von zu der Leitprobe gespeicherten Analyselinien und internen Standards des in Schritt e. aufgenommenen Spektrums.
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