| 发明名称 | 用于改进硬盘驱动器在低温下的性能的方法和设备 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种用于改进硬盘驱动器在低温下的性能的方法和设备。所述方法包括：测量硬盘驱动器的内部温度；检查测量的内部温度是否不高于预定临界温度；如果测量的内部温度不高于预定临界温度，则将硬盘驱动器的电机驱动预定时间，然后继续进行硬盘驱动器的内部温度的测量的操作；和如果测量的内部温度高于预定临界温度，则确定对硬盘驱动器的读/写操作是可用的。 | ||
| 申请公布号 | CN1808572A | 申请公布日期 | 2006.07.26 |
| 申请号 | CN200510123717.6 | 申请日期 | 2005.11.18 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 孙荣;朴鲁烈;洪敏杓 |
| 分类号 | G11B5/012(2006.01);G11B19/02(2006.01) | 主分类号 | G11B5/012(2006.01) |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郭鸿禧;李友佳 |
| 主权项 | 1、一种用于改进硬盘驱动器在低温下的性能的方法，所述方法包括：测量硬盘驱动器的内部温度；检查测量的内部温度是否不高于预定临界温度；如果所述测量的内部温度不高于所述预定临界温度，则将硬盘驱动器的电机驱动预定时间，并继续进行硬盘驱动器的内部温度的测量的操作；和如果所述测量的内部温度高于所述预定临界温度，则确定对硬盘驱动器的读/写操作是可用的。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||