发明名称 |
缺陷光盘的读取方法 |
摘要 |
本发明是关于存在缺陷区域光盘的读取方法的。此读取方法包括以下几个阶段:第一阶段,根据光盘读取信号的特性来判断光盘当前位置是否为存在缺陷区域;第二阶段,根据上述判断结果,当上述光盘当前位置为缺陷区域时,检测缺陷区域的大小;第三阶段,根据检测得到的缺陷区域的大小来设定读取能力。当插入光盘为存在缺陷区域的光盘时,首先检测出缺陷区域的大小,然后据此设置最佳的读取能力,从而可以实现正常读取存在缺陷区域的光盘。 |
申请公布号 |
CN1266682C |
申请公布日期 |
2006.07.26 |
申请号 |
CN03141693.4 |
申请日期 |
2003.07.18 |
申请人 |
上海乐金广电电子有限公司 |
发明人 |
金东植 |
分类号 |
G11B7/005(2006.01);G11B7/085(2006.01);G11B7/00(2006.01) |
主分类号 |
G11B7/005(2006.01) |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
陈亮 |
主权项 |
1.一种缺陷光盘的读取方法,其特征在于包括以下几个阶段:第一阶段,根据光盘读取信号的特性来判断光盘当前位置是否为缺陷区域;第二阶段,根据上述判断结果,当上述光盘当前位置为缺陷区域时,检测缺陷区域的大小;第三阶段,根据检测得到的缺陷区域的大小来设定读取能力,上述读取能力的设定是指与上述检测得到的缺陷区域的大小成正比设定的伺服增益值,上述设定的伺服增益值是指光拾取器内的物镜因上述缺陷区域而脱离上述光盘上的数据轨道,使此物镜重新移动到原来读取数据轨道的最佳值。 |
地址 |
201206上海市浦东新区金桥出口加工区云桥路600号 |