| 发明名称 | 光学测斜仪 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种光学测斜仪。根据本发明，诸如液体表面的取决于倾斜度的介质(6)定位在光学子系统的光瞳中，可检测的波前通过所述介质(6)在检测器(3’)上成像。所述介质(6)引起从辐射源(11)发射的辐射(S)的相移；辐射(S)与介质(6)进行反射或透射相互作用。可以通过波前探测器来分析介质(6)引起的波前的偏差并通过评估单元(9’)或检测器(3’)对其进行补偿。在各子孔径之前形成有衍射结构的波前探测器是紧凑的，并且提高了测斜仪的分辨率和可检测角度范围。 | ||
| 申请公布号 | CN1809726A | 申请公布日期 | 2006.07.26 |
| 申请号 | CN200480017565.5 | 申请日期 | 2004.06.01 |
| 申请人 | 莱卡地球系统公开股份有限公司 | 发明人 | 伯恩哈德·布劳内克;彼得·基佩弗 |
| 分类号 | G01C9/20(2006.01);G01C9/06(2006.01);G02B26/06(2006.01) | 主分类号 | G01C9/20(2006.01) |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 李辉 |
| 主权项 | 1、一种光学测斜仪，包括： ·用于产生辐射(S)的辐射源(11，11’，11”)，特别是半导体激 光器或发光二极管； ·介质(6，6’)，其光学界面取决于倾斜度； ·检测器(3’，3”，3)，优选地具有CMOS或CCD微摄像装置， 用于接收像并将其转换为信号；以及 ·用于确定倾斜度的评估单元(9’，9”，9)； 其中辐射源(11，11’，11”)和检测器(3’，3”，3)被设置为使 得波前(WF2，WF3，WF4)至少通过介质(6，6’)的一部分间接或直 接地反射和/或透射到检测器(3’，3”，3)上成像； 其特征在于，检测器(3’，3”，3)具有波前探测器或者检测器(3’， 3”，3)由波前探测器构成。 | ||
| 地址 | 瑞士海尔博瑞格 | ||