扫描测试电路

摘要

在扫描测试电路中，移位动作时的时钟周期比捕获动作时的时钟周期短。例如，将移位动作时的时钟周期设定为20纳秒，而将捕获动作时的时钟周期设定为100纳秒。在这里，虽然时钟经由时钟端子CLK从LSI的外部的LSI测试器被提供，但是时钟的周期也可在LSI测试器侧与扫描使能信号(SCANEN)的变化同步地切换。根据本发明，能够缩小移位动作所占用的时间，并能够实现缩短扫描测试所需要的时间。从而，缩短扫描测试电路所需要的时间并降低测试成本。

主权项

1、一种扫描测试电路，包括：多个逻辑电路；和对应各逻辑电路配置的多个扫描触发器电路，所述扫描触发器电路，在扫描使能信号为第一电平时构成移位寄存器，并进行按照时钟的移位动作，在所述扫描使能信号为第二电平时，根据所述时钟进行获得所述逻辑电路的输出数据的捕获动作，其中所述移位动作时的时钟周期比捕获动作时的时钟周期短。