发明名称 存储单元以及电荷陷入层存储单元的阵列的操作方法
摘要 一种减少电荷陷入层存储单元中栅极干扰的方法,它是通过施加不同的Vpass电压于所选择的字线的不同侧。较高的Vpass电压用于通过较高的源极/漏极电压以及较低的Vpass电压用于通过较低的源极/漏极电压。当施加Vpass电压时,可通过控制所选择字线的不同侧上的Vpass电压,以减少栅极区域所建立的垂直电场。此减少的垂直电场将可抑制栅极干扰。此减少存储单元中栅极干扰的方法也包括新颖的位线偏压方案,其还可减少垂直电场的产生,以抑制栅极干扰,尤其是在存储单元阵列中的栅极干扰。
申请公布号 CN1808718A 申请公布日期 2006.07.26
申请号 CN200510125711.2 申请日期 2005.12.01
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 廖意瑛;叶致锴;蔡文哲
分类号 H01L27/115(2006.01);H01L29/78(2006.01);G11C16/02(2006.01);G11C16/06(2006.01);G11C7/00(2006.01) 主分类号 H01L27/115(2006.01)
代理机构 北京连和连知识产权代理有限公司 代理人 薛平
主权项 1.一种存储单元的操作方法,而每一个存储单元包括电荷陷入层,且多个存储单元是通过多条位线和字线而被选择,而该存储单元的操作方法的特征包括:辨别被选择的存储单元所在的字线,以作为被选择的字线;施加第一Vpass电压于该选择的字线一侧上的多条非选择的字线;以及施加第二Vpass电压于该被选择的字线的另一侧上的多条非选择的字线,其中该第二Vpass电压不同于该第一Vpass电压。
地址 台湾省新竹县新竹科学工业园区力行路16号