SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE TESTER,申请号KR20050005422-传众专利搜索

发明名称	SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE TESTER
摘要
申请公布号	KR20060084647(A)	申请公布日期	2006.07.25
申请号	KR20050005422	申请日期	2005.01.20
申请人	SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.	发明人	PARK, MIN HO
分类号	G11C29/00	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
主权项
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