| 主权项 |
1.一种双测试天线之测试室,用以进行一电子装置 的电磁波相关测试,包括: 一隔离室,具有屏蔽效果; 一测试桌,设置于该隔离室内,用以摆置该电子装 置; 一第一测试天线,设置于该隔离室内且与该测试桌 相距一第一既定距离; 一天线架,设置于该测试桌和该第一测试天线之间 且与该测试桌相距一第二既定距离,用以选择性装 设一第二测试天线,其中,当该天线架未装设该第 二测试天线时,该电子装置藉由该第一测试天线进 行电磁波相关测试;以及当该天线架装设该第二测 试天线时,该电子装置藉由该第二测试天线进行电 磁波相关测试;以及 复数个吸波材料,设置于该隔离室之内侧壁面,用 以避免该隔离室之内侧壁面反射测试用之电磁波 。 2.如申请专利范围第1项所述之双测试天线之测试 室,其中该天线架之顶部具有一凹槽,且于该第二 测试天线之底部具有可与该凹槽密合之一插栓。 3.如申请专利范围第1项所述之双测试天线之测试 室,其中该天线架之顶部和该第二测试天线之底部 分别具有一凹槽,并且该天线架可藉由两端分别与 该凹槽密合之一插栓来装设该第二测试天线。 4.如申请专利范围第1项所述之双测试天线之测试 室,其中该测试桌具有一转动装置,以转动该测试 桌。 5.如申请专利范围第1项所述之双测试天线之测试 室,其中该第一测试天线和该天线架固定于该隔离 室之内侧底面上,并且于该第一测试天线和该天线 架之底座上设置该吸波材料。 6.如申请专利范围第1项所述之双测试天线之测试 室,其中该第一测试天线系为一射频测试天线。 7.如申请专利范围第1项所述之双测试天线之测试 室,其中该第二测试天线系为一电磁相容性测试天 线。 8.如申请专利范围第1项所述之双测试天线之测试 室,其中该第一测试天线和该天线架之底座上具有 复数个L形铁片,以强化该第一测试天线和该天线 架,并且于该第一测试天线和该天线架之底座上设 置该吸波材料。 9.如申请专利范围第1项所述之双测试天线之测试 室,其中该第一和第二既定距离系由进行之电磁波 相关测试的相关标准和规范所定义。 10.如申请专利范围第1项所述之双测试天线之测试 室,其中更包括: 一第一定位器,设置于相对该测试桌中心之该隔离 室的内侧上壁面,藉以确定该电子装置于该测试桌 之摆放位置。 11.如申请专利范围第1项所述之双测试天线之测试 室,其中更包括: 一第一定位器,设置于相对该测试桌中心之该隔离 室的内侧上壁面,藉以确定该电子装置于该测试桌 之摆放位置;以及 一第二定位器,设置于该测试桌相对该第一测试天 线之另一侧之该隔离室的内侧壁面,藉以确定该电 子装置于该测试桌之摆放位置及方向。 图式简单说明: 第1图系为说明习知之测试室的概要架构图; 第2图系为说明根据本发明之第一实施例之双测试 天线之测试室的概要架构图; 第3图系为说明于第2图中之天线架装设一实施例 之第二测试天线的示意图; 第4图系为说明于第2图中之天线架装设另一实施 例之第二测试天线的示意图; 第5图系为说明根据本发明之第二实施例之双测试 天线之测试室的概要架构图;以及 第6图系为说明根据本发明之第三实施例之双测试 天线之测试室的概要架构图。 |
