控制器大容量存储器混装型半导体集成电路器件及测试法

摘要

本发明揭示一种控制器大容量存储器混装型半导体集成电路器件及其测试和使用方法。该器件在半导体芯片(100)内至少具有作为主存储单元的大容量存储器(1)、对外部与(1)的数据输入输出进行控制的控制器(2)、能改写数据的存储单元(34)、将按(34)中自测试序列对(1)进行自测试求得的数据存到缓冲存储器(22)的电路和按(34)所写自冗余序列对与(22)所存故障地址对应的不合格部分进行自保护处理的电路。

主权项

1.一种半导体集成电路器件，其特征在于，包括：设置在半导体器件内的主存储电路；设置在所述半导体器件内、至少对从所述半导体器件外向所述主存储电路的数据输入和从所述主存储电路向所述半导体器件外的数据输出进行控制的控制电路；设置在所述半导体器件内、对写入的自测试序列可进行改写的存储电路；以及设置在所述半导体器件内、并按在所述可进行改写的存储电路中写入的自测试序列对所述主存储电路进行自测试的自测试电路，其中，所述自测试电路和所述主存储电路通过控制信号线连接，所述主存储电路、所述控制电路以及所述自测试电路通过数据信号线和地址信号线相互连接。