发明名称 |
用于对微特征工件的机械与/或化学-机械抛光的系统和方法 |
摘要 |
用于对微特征工件抛光的系统和方法。在一个实施例中,一种方法包括:确定微特征工件的某一特征的状态;和在确定微特征工件的特征的状态后,将承载器头与/或抛光垫相对于另一个移动,以使微特征工件摩擦抛光垫。该承载器头还承载多个压电部件。该方法还包括根据确定的特征的状态,通过对多个压电部件的至少一个加电向微特征工件的背面施加压力。在另一个实施例中,一种系统包括:工件承载器组件;多个压电部件;抛光垫;用于确定特征的状态的度量工具;以及控制器。该控制器可具有包括指令的计算机可读介质,以执行上述方法。 |
申请公布号 |
CN1805824A |
申请公布日期 |
2006.07.19 |
申请号 |
CN200480016663.7 |
申请日期 |
2004.04.26 |
申请人 |
微米技术有限公司 |
发明人 |
詹森·B·埃勒德基 |
分类号 |
B24B37/04(2006.01);B24B41/06(2006.01);B24B49/16(2006.01) |
主分类号 |
B24B37/04(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
刘晓峰 |
主权项 |
1.一种用于对具有特征的微特征工件抛光的方法,所述方法包括:确定脱离抛光循环的所述微特征工件的所述特征的状态;在确定所述微特征工件的所述特征的所述状态后,使承载器头和平面化介质的至少一个相对另一个移动,所述承载器头承载多个驱动部件;和根据所确定的所述特征的所述状态,通过控制所述多个驱动部件的至少一个,向所述微特征工件的背面施加压力。 |
地址 |
美国艾达荷 |